WBE-KSH1000/testovacia komora na rýchlu zmenu teploty

Skúšobný kus môže byť podrobený testovaniu teplotného namáhania (ESS), skríningu teploty a vlhkosti, testovaniu spoľahlivosti atď. Bežne používané rýchlosti nárastu teploty sú 5 °C/min, 10 °C/min, 15 °C/min, 20 °C/min a 25 °C/min.

Oblasti použitia:

Polovodičové čipy, vedecko-výskumné inštitúcie, kontrola kvality, nová energia, optoelektronická komunikácia, letecký a vojenský priemysel, automobilový priemysel, LCD displeje, lekársky a iný technologický priemysel.

Skúšobné normy:

GB/T 2423.1 Testovacia metóda pri nízkych teplotách, GJB 150.3 Testovacia metóda pre vysokú teplotu, GB/T 2423.2 Testovacia metóda pre vysokú teplotu, GJB 150.4 Test pri nízkej teplote, GB/T2423.34 Skúšobná metóda vlhkosti, GJB 150.9 Skúšobná metóda vlhkosti, IEC60068-2 Skúšobná metóda teploty a vlhkosti, MIL-STD-202G-103B Metóda testovania vlhkosti

Vlastnosti produktu:

1. Produkt spĺňa požiadavky na lineárne aj nelineárne teplotné rampovanie.
2. Spĺňa požiadavky na rýchlosť nárastu teploty od 5 °C / min do 30 °C / min.
3. Voliteľné funkcie zahŕňajú kvapalný dusík, vlhké teplo a antikondenzáciu.
4. S využitím technológie elektronického expanzného ventilu a inovatívneho riadiaceho systému dosahuje produkt úsporu energie presahujúcu 45%.