Používa sa na testovanie výkonu rôznych výrobkov z hľadiska tepelnej odolnosti, odolnosti proti chladu. Používa sa hlavne v polovodičových čipoch, vedeckých výskumných inštitúciách, kontrole kvality, novej energii, optoelektronických komunikáciách, leteckom a kozmickom vojenskom priemysle, automobilovom priemysle, LCD displeji, lekárskom a inom high-tech priemysle.
Používa sa na testovanie výkonu rôznych výrobkov z hľadiska tepelnej odolnosti, odolnosti proti chladu. Používa sa hlavne v polovodičových čipoch, vedeckých výskumných inštitúciách, kontrole kvality, novej energii, optoelektronických komunikáciách, leteckom a kozmickom vojenskom priemysle, automobilovom priemysle, LCD displeji, lekárskom a inom high-tech priemysle.
Testovacie kritérium
1.B / T 2423.1 Testovacia metóda pri nízkej teplote
2. Vysokoteplotný test GJB 150.3
3.GB / T 2423.2 vysokoteplotná testovacia metóda
4. Test nízkej teploty GJB 150.4
